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深圳ITES|3D变2D,崧智助力实现复杂曲面外观缺陷检测

来源:崧智职能

发布时间:2021-03-29


2021年3月30日-4月2日,第22届ITES在深圳国际会展中心(宝安新馆)举办。崧智智能将联手遨博智能展出复杂表面缺陷检测方案,感兴趣的您可以在下面展台找到我们的产品:


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此次崧智展出的方案是用2D线扫相机解决曲面的缺陷检测问题。与传统的方案相比,该方案的优点如下:

1、检测的成像效果连续、完整、精度高,曲面的表面被完整地一次性扫描检测。表面缺陷检测精度可达0.02mm,且检测算法成熟稳定。

2、仅一台2D线扫相机完成检测作业成为可能,大大降低检测系统的构成成本。检测距离、检测轨迹由崧智数字孪生系统RioD®快速规划完成。

3、检测速度快。基于现场数据和工艺分析,运用机器学习算法,可以10倍提速作业周期。

4、部署及调试时间可短至一天。


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