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光学薄膜缺陷检测方案

OM-LGP系列,光学薄膜缺陷检测解决方案是崧智智能控制系统在3C行业的一个典型应用场景,检测方案将AOS-Control智能控制系统、AOS-Vision视觉软件与高分辨率大靶面相机相结合,综合检测各类缺陷问题。

清洁效率>99%

专为显示面板行业研发设计的高洁净度发尘控。净化效率99.99%@0.3μm。


常态缺陷检出率>99%

过检率≤1%。视觉检测功能方面,崧智AOS-Vision算法结合线扫相机,可以实现高速、高精度、多角度成像,其中,内置的多轴防抖处理算法,可提成像质量,达到高质量的成像效果。设计方案采用光学薄膜背景和缺陷之间的灰度差(对比度)进行区分,即缺陷数字化表示。使用AOI数值与背光定,形成标准化设定参数,避免人为感官造成的判定误差,可以清晰检测出射出缺陷、抛光缺陷、清洁传输缺陷等。同时,针对背黑或黄化等特光学检测,也可支持定制化解决方案。


多功能模块一体化解决方案

公司自主研发视觉、算法、软件、结构等整体解决方案,系行业内最高效解决方案,全面涵盖各流程。





检测类型

光学薄膜外观缺陷检测(矩形片)

材料规格

PC类、clear类、PMMA 、注塑类、热压类

尺寸

4" ~ 32"

检测CT

依照产品实际尺寸确认(18"单片CT/15s)

漏检率

≤0.3%

过检率

≤1%

机损率

按照厂内及检出要求规格

检测项目

脏污、油点、白点、料花、抛缺、冷胶、拉丝、锈点、划伤、压伤

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